馬波斯 NCGR 厚度測量儀以光反射技術為測量原理，可有效測量多種材料的納米級薄膜的厚度。

馬波斯 NCGR 厚度測量儀可為獨立測量設備，也可連接自動化設備，在線管控厚度。不僅適用于成品檢測，其測頭設計讓其即使在惡劣生產(chǎn)條件下工作也能游刃有余，因而可用于產(chǎn)品在機內(nèi)加工時的實時測量。

馬波斯NCGR厚度測量儀以光反射技術為測量原理：在不同表面的分界面處，光波發(fā)生反射，反射的波形取決于多層薄膜的疊加和各層薄膜的厚度。在多層復合材料上進行訓練后，這款測量儀就可測量出厚度僅有數(shù)納米的目標薄膜層的數(shù)據(jù)。

過去，納米級厚度測量幾乎都需要在加工后進行。而如今，隨著機床數(shù)控技術的發(fā)展，可實現(xiàn)加工的同時進行如此超高精度的測量。 馬波斯以數(shù)十年所積累的豐富經(jīng)驗為基礎為此應用設計開發(fā)了專用的測頭和軟件，可滿足產(chǎn)品在機內(nèi)加工過程中的實時測量要求

優(yōu)勢：

• 提供納米級薄膜厚度的非接觸式測量。

• 加工過程中的實時測量